107JV三維精密測(cè)量顯微鏡,采用透,反射,垂直照明的方式對(duì)工件長(zhǎng)度和角度作精密測(cè)量。特別適用于錄象磁頭、磁卡、大規(guī)模集成電路線寬以及其他精密零件的測(cè)試。廣泛地適用于計(jì)量室、生產(chǎn)作業(yè)線以及科學(xué)研究等部門。